天线测量的典型配置
大多数普通天线的测量是测定其远场的辐射特性，如方向图（幅度、相位、极化）、旁瓣电平、增益、频带宽度等。本节将定义这些测量的基本概念。
为测量辐射特性的典型配置。基本步骤是将一副发射或接收的源天线放在相对于待测天线（AUT）的远场位置上，待测天线架设在可旋转平台上，旋转待测天线，借以采集大量方向图取样值，实现天线辐射特性的测量。由于天线是电磁开放系统，组合天线，测试环境对测量结果将产生影响，组合天线厂，因此必须合理选择测试场地，尽量实现无反射的环境，如建造微波暗室等。
平板天线技术关键（一）
由于在生产平板天线时，采用了不同于反射式抛物面天线的技术，使得生产技术和生产工艺均不相同，平板天线要达到预期的电气性能也并非易事，关键在于损耗和匹配问题。
馈线的传输损耗。前面我们已经知道了，在振子式平板天线中采用的是微带传输线，深圳组合天线，而在缝隙式平板天线中采用的是传输波导。尽管这两种传输媒介都能较好的在平板天线中起到传输作用，但是工作在Ku波段的12GHz频率状况下，设计上和制造时稍有不当，便会有较大的损耗。
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