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去除光刻胶放高温炉中进行退火处理 以消除晶圆中晶格缺陷和内应力 回收整张8寸蓝膜，以恢复晶格的完整性。使植入的掺杂原子扩散到替代位置，产生电特性。用热磷酸去除氮化硅层，掺杂磷 (P+5) 离子，形成 N 型阱，并使原先的SiO2 膜厚度增加 NANN整张8寸蓝膜回收，达到阻止下一步中n 型杂质注入P 型阱中。退火处理，然后用 HF 去除 SiO2 层。干法氧化法干法氧化法生成一层SiO2 层，然后LPCVD 沉积一层氮化硅。此时P 阱的表面因SiO2 层的生长与刻蚀已低于N 阱的表面水平面。这里的SiO2 层和氮化硅的作用与前面一样。接下来的步骤是为了隔离区和栅极与晶面之间的隔离层。
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到达基片的原料分子不具有表面移动的能量，立即凝结在基片的表面，所以，在具有台阶的表面上以真空蒸发法淀积薄膜时，一般，表面被覆性（覆盖程度）是不理想的。但若可将Crambo真空抽至超高真空（ <10 – 8 torr ），并且控制电流，使得欲镀物以一颗一颗原子蒸镀上去即成所谓分子束磊晶生长（ MBE ： Molecular Beam Epitaxy ）。
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